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【2h】

LOW POWER TEST PATTERN GENERATION FOR BIST APPLICATIONS

机译：BIsT应用的低功率测试模式生成

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1. Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications [J] . Nourani M., Tehranipoor M., Ahmed N. IEEE Transactions on Computers . 2008,第3期

机译：针对基于BIST的应用程序的低过渡测试模式生成
2. A Review on Test Pattern Generation for Low Power Built In Self Test Application [J] . Australian Journal of Basic and Applied Sciences . 2014,第2014期

机译：内置自测应用中低功耗测试模式生成的综述
3. A Review on Test Pattern Generation for Low Power Built In Self Test Application [J] . D. Mahesh Kumar, Dr.R. Kannusamy Australian Journal of Basic and Applied Sciences . 2014,第2014期

机译：内置自测应用中低功耗测试模式生成的综述
4. VLSI Implementation of Low Power Multiple Single Input Change (MSIC) Test Pattern Generation for BIST Scheme [C] . Vasanthanayaki C., Pazhani A.Azhagu Jaisudhan, Johnson Jincy International Symposium on Electronic System Design . 2014

机译：针对BIST方案的低功耗多路单输入更改（MSIC）测试模式生成的VLSI实现
5. Test pattern generation techniques that target low test application time. [D] . Abdulrahman, Arkan. 2008

机译：针对测试时间短的测试模式生成技术。
6. Low-Power Testing of Losses in Millimeter-Wave Transmission Lines for High-Power Applications [O] . S. T. Han, E. N. Comfoltey, M. A. Shapiro, -1

机译：针对大功率应用的毫米波传输线中的损耗的低功率测试
7. Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications [O] . Mehrdad Nourani, Senior Member, Mohammad Tehranipoor, 2014

机译：基于BIsT的应用的低转换测试模式生成
8. Fabrication and testing of advanced thermoelectric unicouple for power generation applications [R] . Sakamoto, J., Snyder, J., Zoltan, A., 2003

机译：用于发电应用的先进热电单联体的制造和测试

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